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SEZ−45092 半導体信頼性試験機 |
【概要】 本試験装置は半導体素子の高温下における逆バイアスい対する耐性を評価する装置です。 本装置は、2msのパルス電源を有し、±100V/5A、±250V/3Aの定電圧パルスを印加することができます。 また、高温で使用するため、トレイの線材及び材質は150℃まで耐えられるものを使用しております。 |
@構成 | @電源装置 2台 Aブロック数 6×2ブロック B回路数 1ブロック:30回路(装置全体で360回路) |
A電源部出力 | @パルス電源 パルス幅:2ms 電源同調 30Vp〜 100Vp 5A 101Vp〜 250Vp 3A ADC電源 0V 〜1500V 0.6A BAC電源 0Vp〜1500Vp 0.8A C半波 0Vp〜1500Vp 0.8A |
B保護回路 | 0.1Aのガラス管ヒューズを各回路に挿入し、ヒューズ断線の場合にはLEDが消灯して知らせます。 |