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SEZ−45092
半導体信頼性試験機

半導体信頼性試験機

【概要】
 本試験装置は半導体素子の高温下における逆バイアスい対する耐性を評価する装置です。
 本装置は、2msのパルス電源を有し、±100V/5A、±250V/3A
の定電圧パルスを印加することができます。
 また、高温で使用するため、トレイの線材及び材質は150℃まで耐えられるものを使用しております
フロントパネル面
【電気仕様】
@構成    @電源装置 2台
Aブロック数 6×2ブロック
B回路数 1ブロック:30回路(装置全体で360回路)
A電源部出力 @パルス電源
 パルス幅:2ms  電源同調
       30Vp〜 100Vp   5A
      101Vp〜 250Vp   3A
ADC電源   0V 〜1500V  0.6A
BAC電源   0Vp〜1500Vp 0.8A
C半波     0Vp〜1500Vp 0.8A
B保護回路     0.1Aのガラス管ヒューズを各回路に挿入し、ヒューズ断線の場合にはLEDが消灯して知らせます。



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