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TFT試験装置

TFT試験装置

【概要】
 本システムは、ダイオードの加速寿命試験装置です。
 ダイオードの両端にAC電圧(正弦波)を印加し、順方向に半端平均値で最大75Aの電流を流します。ダイオードに取り付けられた温度センサーと温調器により、任意に設定した温度の上限と下限の間で、通電→冷却(シロッコファンによる強制冷却)を繰り返します。

【電気仕様】

@温度設定範囲 0℃〜300℃ デジタル3桁設定
A通電電流 0〜75A オープン電圧 約40Vp−p(75A時)
B試験素子数 5個
C入力電源 AC200V 消費電力 15kW以下
D異常検出 下記の異常が発生するとアラームランプが点灯し、通電をストップします。

@スライダックが発熱した場合(70℃)
A通電中に通電部の扉が開いた場合
B設定時間内に発熱温度に達しない場合
C・IF電流がハイリミットをオーバーした場合
 ・IF電流がローリミット以下になった場合
E試験方法 通電電流ON/OFFの1サイクル毎にカウンターがアップし、カウンターで設定された設定値に達すると、試験を終了します。

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