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TFT試験装置 |
【概要】 本システムは、ダイオードの加速寿命試験装置です。 ダイオードの両端にAC電圧(正弦波)を印加し、順方向に半端平均値で最大75Aの電流を流します。ダイオードに取り付けられた温度センサーと温調器により、任意に設定した温度の上限と下限の間で、通電→冷却(シロッコファンによる強制冷却)を繰り返します。 |
【電気仕様】
@温度設定範囲 | 0℃〜300℃ デジタル3桁設定 |
A通電電流 | 0〜75A オープン電圧 約40Vp−p(75A時) |
B試験素子数 | 5個 |
C入力電源 | AC200V 消費電力 15kW以下 |
D異常検出 | 下記の異常が発生するとアラームランプが点灯し、通電をストップします。 @スライダックが発熱した場合(70℃) A通電中に通電部の扉が開いた場合 B設定時間内に発熱温度に達しない場合 C・IF電流がハイリミットをオーバーした場合 ・IF電流がローリミット以下になった場合 |
E試験方法 | 通電電流ON/OFFの1サイクル毎にカウンターがアップし、カウンターで設定された設定値に達すると、試験を終了します。 |