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SE−8900 IGBT テスター |
【概要】 本装置は、トランジスタ、FET、IGBTの熱抵抗を測定するもので、当社のカタログ製品SE−8900とテストヘッドにより構成されます。 測定条件及び結果は、SE−8900のLCDに表示されます。また測定条件の設定はパネル面のスイッチにより行います。 測定シーケンスは1,2の2項目を有し、各々異なった測定条件に測定が可能です。 |
【電気仕様】 (1) VCE/VGS電源 (定電圧電源) +10V〜+99.9V 設定精度 ±(1%+1digit) (2) IE/IS電源 (定電流電源) 0.01A〜2.0A 設定精度 ±(1%+1digit) (3) IM電源 (定電流電源) 1mA〜99.9mA 設定精度 ±(1%+1digit) (4) TD(測定タイミング) 50μs〜200μs (5) PT(パワー印可時間) 10ms〜99ms (6) ΔVBE/ΔVGS(熱抵抗) 2mV〜3999mV 測定精度 ±(2%+1digit) |