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SE−8900 VF/VR/IR/ΔIR テスター |
【概要】 本テスターは、ダイオードのコンタクトチェック、P/N判定、VF、VR、IR、ΔIRの6項目を高速度(約120ms)で測定し、GO/NGの判定と測定結果のデータをパーソナルコンピュータに転送し、データ処理を行うシステムです。 従来のテスターは、オートハンドラーの測定ポジションは3ポジションを使用していたものを、1ポジションで全項目のテストが可能となりました。 測定条件の設定等はパーソナルコンピュータのフロッピーにおいて管理するため、他品種における測定条件の変更等は非常に容易となっております。また、テスター側のμ−CPUはアルカリ電池によるバックアップを行っているため、電源をOFFにしてもメモリーの内容は1年以上保持されます。 【外部インターフェース】 RS−232CまたはGP−IB フォトカプラによる絶縁入出力 INPUT 16本 OUTPUT 16本 |