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SE−8900−50、−100 VF/ΔVFテスター |
【概要】 本システムは、ダイオードのVF/ΔVF(熱抵抗)の測定を行うもので、IF電流により2品種のテスターを製作しております。 テスターは電源トランスを使用していないため、小型・軽量を実現し、寸法・重量共従来の1/5以下となっております。また性能についても小型化を実現したため、各部の電源の波形等が大幅に改善されております。 オプションとしてプリンター、8chMPLX、IR/VRテスター等が容易に接続可能となっております。 テスター部には標準装備としてRS−232C、GP−IBが内蔵されております。 |
【電気仕様】
IF電源 | 出力電流 | 1.0〜50.0A | 1.0〜100.0A |
印加時間 | 10〜200ms | 10〜200ms | |
設定精度 | ±(2%+1digit) | ±(2%+1digit) | |
定電流特性 | 4.0V | 4.0V |
IR電源 | 出力電流 | 1.1〜200mA | 1.1〜200mA |
設定精度 | ±(1%+1digit) | ±(1%+1digit) | |
定電流特性 | 4.0V | 4.0V |